Лабораторная работа № 22 Тема: параметрический анализ электрических цепей
Содержание отчета
- В отчете указать тему, цель работы
- Схемы исследования
- Передаточные характеристики
- Записать выводы по проделанной работе
Контрольные вопросы
1 Понятие технологии виртуальных приборов.
2 Состав и назначение виртуальных измерительных приборов аппаратно-программных комплексов NI Multisim.
3 Назначение органов управления лицевой панели виртуальных приборов.
4 Порядок сборки и подключения виртуальных приборов к схеме.
5 Понятия амплитудной и частотных характеристик, передаточных характеристик, а также порядок их снятия.
6 Порядок проведения DC Sweep анализа.
Лабораторная работа № 22 Тема: Параметрический анализ электрических цепей
Цель работы:изучить возможности САПР, установить влияние различных параметров
схемы на характеристики и параметры всего устройства
Оборудование рабочего места:ПК, ПО
Краткие теоретические сведения
С Parameter Sweep Analysisвы можете проверить работу схемы, симулируя ее при изменении значений параметров компонент в заданном диапазоне. Эффект тот же, что и при симуляции схемы несколько раз, по разу для каждого значения. Вы управляете значениями параметра, выбирая начальное значение, конечное значение, тип «качания», который вы хотите симулировать, и нужное значение приращения в диалоговом окне Parameter Sweep.
Есть три типа анализа, которые могут быть выполнены с меняющимся компонентом: DC Operating Point, Transient Analysis и AC Analysis. Некоторые компоненты имеют больше параметров, которые могут меняться, чем другие. Это будет зависеть от модели компонента. Активные компоненты, такие как операционные усилители, транзисторы, диоды и другие, будут иметь больше доступных для выполнения «качания» параметров, чем пассивные компоненты, такие как резисторы, индуктивности и конденсаторы. Например, индуктивность — единственный доступный параметр для катушки индуктивности, тогда как модель диода имеет приблизительно 15-25 параметров.
|
