Междисциплинарные связи между подсистемами различной физической природы

↑

▷ Содержание

⇐ ПредыдущаяСтр 2 из 4Следующая ⇒

В данных разделах излагается суть работы, они могут быть структурирвоаны на разделы (Х), подразделы (Х.Х) и параграфы (Х.Х.Х). Раздел - вычислительный эксперимент, если он имеется в работе, должен включать в себя опсиание решаемой прикладной задачи со значениями ее параметров, информацию об организации эксперимента (используемая вычислиетльная система и ее параметры, используемое программное обеспечение и т.д.). Результаты экспериментов должны быть представлены в виде таблиц и графиков, смысл всех обозначений на которых должен быть разъяснен по русски. Обсуждение результатов вычислительного эксперимента должно содержать выводы о том, в какой степени эти результаты согласуются с теорией, достигнут ли желаемый результат, обнаружены ли какие либо факты, не нашедшие объяснения.

В микрооптоэлектромеханических системах [6] можно выделить три основные подсистемы: оптическую, механическую и электрическую.

В рамках исследований проводилось моделирование оптической, механической и управляющей подсистем. В докладе представлены результаты, полученные при моделировании этих подсистем.

Оптическая подсистема моделировалась в пакете MATLAB/Simulink. Данный пакет выбран, исходя из совместимости с языком VHDL-AMS.

VHDL это формальный язык описания цифровой аппаратуры. Расширение AMS позволяет описывать смешанные аналого-цифровые устройства. В [4, 7] приведены математические модели оптической подсистемы исследуемого микрооптоэлектромеханического акселерометра:

(1)

(2)

(3)

(4)

(5)

Выбранные модели были реализованы в специальном модуле в пакете MATLAB/Simulink, позволяющем рассчитывать параметры интерферометра. На основе разработанного программного обеспечения были получены зависимости чистоты отражения от коэффициента отражения зеркала (рис. 1), зависимость коэффициента контрастности от коэффициента отражения (рис. 2), а так же интенсивность излучения после прохождения интерферометра (рис. 3).

Рисунок 1 - Зависимость чистоты отражения от коэффициента отражения зеркала R

Рисунок 2 - Зависимость коэффициента контрастности от коэффициента отражения зеркала R

Рисунок 3 - Интенсивность излучения интерферометр после прохождения интерферометра

Рисунок 4 – Модель подвижной массы микрооптоэлектромеханического акселерометра

Моделирование механической подсистемы проводилось в программном комплексе ANSYS. В качестве объекта моделирования была выбрана подвижная масса микрооптоэлектромеханического акселерометра. На рисунке 4 представлена модель подвижной массы, созданная в программном комплексе ANSYS. Данный программный комплекс для решения использует метод конечных элементов [5]. При моделировании использовалась эквивалентная модель подвижной массы. Входящая в состав программного комплекса утилита ROMTool позволяет представить созданный объект в виде описания на языке VHDL-AMS.

Познавательные статьи:



Организация работы процедурного кабинета

Статус республик в составе РФ

Понятие финансов, их функции и особенности

Сущность демографической политии