Заглавная страница Избранные статьи Случайная статья Познавательные статьи Новые добавления Обратная связь FAQ Написать работу КАТЕГОРИИ: ТОП 10 на сайте Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрацииТехника нижней прямой подачи мяча. Франко-прусская война (причины и последствия) Организация работы процедурного кабинета Смысловое и механическое запоминание, их место и роль в усвоении знаний Коммуникативные барьеры и пути их преодоления Обработка изделий медицинского назначения многократного применения Образцы текста публицистического стиля Четыре типа изменения баланса Задачи с ответами для Всероссийской олимпиады по праву
Мы поможем в написании ваших работ! ЗНАЕТЕ ЛИ ВЫ?
Влияние общества на человека
Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрации Практические работы по географии для 6 класса Организация работы процедурного кабинета Изменения в неживой природе осенью Уборка процедурного кабинета Сольфеджио. Все правила по сольфеджио Балочные системы. Определение реакций опор и моментов защемления |
Биполярный транзистор с диодом ШоткиСодержание книги
Поиск на нашем сайте
Биполярный транзистор, особенно в логических интегральных микросхемах, часто выполняет функцию переключающего элемента. При этом он работает не только в активном режиме, но и в режимах насыщения и отсечки. В режиме насыщения происходит накопление неосновных носителей заряда в базе транзистора, а также в коллекторной области. Процессы накопления неосновных носителей и их последующего рассасывания при переводе транзистора в режим отсечки или в выключенное состояние связаны с относительно медленным процессом диффузии неосновных носителей заряда. Инерционность этих процессов определяет скорость перевода транзистора из включенного в выключенное состояние и обратно, т. е. скорость срабатывания схемы. Для ускорения процесса рассасывания неосновных носителей заряда целесообразно ограничить их накопление. Достичь этого можно путем шунтирования коллекторного перехода транзистора диодом Шотки, т. е. диодом с выпрямляющим электрическим переходом в виде контакта металла с полупроводником. Структура этого транзистора и его эквивалентная схема показаны на рис. 3.35, а, б.
а б Рис. 3.35
Контакт алюминиевого электрода с р -областью базы оказывается невыпрямляющим, а контакт алюминиевого электрода с относительно высокоомной n- областью коллектора получается выпрямляющим. Из-за неравенства работ выхода электронов из алюминия и из кремния с электропроводностью n- типа и в результате химической обработки поверхности кремния на контакте возникает потенциальный барьер для электронов высотой около 0,6 эВ, что несколько меньше высоты потенциального барьера p-n -перехода коллектора. Поэтому при прямом смещении коллекторного перехода и соответственно при прямом смещении выпрямляющего контакта алюминий – кремний с электропроводностью n -типа (диод Шотки) основная часть прямого тока коллектора будет проходить через диод Шотки. Этот ток связан с движением электронов из n -области коллектора в металл и не сопровождается инжекцией дырок в область коллектора. Поэтому в высокоомной области коллектора не происходит накопления неосновных носителей заряда. Высота потенциального барьера на контакте металл-полупроводник (на диоде Шотки) по сравнению с высотой потенциального барьера на p-n -переходе коллектора при тех же прямых токах коллектора будет меньше и меньше будет на коллекторном переходе прямое напряжение, что соответствует меньшему количеству накопленных неосновных носителей заряда в базе транзистора при режиме насыщения. В результате время рассасывания в транзисторе с диодом Шотки оказывается значительно меньше (несколько наносекунд), чем время рассасывания в транзисторе аналогичной структуры, но без шунтирующего диода Шотки. Отметим, что на контакте алюминиевых электродов с сильнолегированной n +-областью эмиттера и с сильнолегированной частью n +-области коллектора также возникают потенциальные барьеры, но их толщина оказывается настолько малой, что сквозь такие узкие потенциальные барьеры электроны могут проходить практически беспрепятственно путем туннелирования. Таким образом, контакты алюминиевых электродов с эмиттерной областью и с сильнолегированной частью коллекторной области получаются невыпрямляющими, а их формирование и формирование выпрямляющего контакта диода Шотки осуществляется во время одного процесса металлизации. Изготовление интегрального транзистора с диодом Шотки не требует введения дополнительных технологических операций. Необходимо лишь изменить соответствующим образом фотошаблон, применяемый при проведении фотолитографии для снятия двуокиси кремния под контакты, и расширить слой напыляемого алюминия за металлургическую границу коллекторного перехода. Однако при снятии двуокиси кремния в месте выхода коллекторного перехода на поверхность монокристалла кремния и при обработке этой поверхности перед нанесением алюминиевой металлизации следует предотвратить возможность загрязнения p - n -перехода коллектора неконтролируемыми примесями.
|
||
|
Последнее изменение этой страницы: 2017-01-24; просмотров: 179; Нарушение авторского права страницы; Мы поможем в написании вашей работы! infopedia.su Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Обратная связь - 216.73.216.198 (0.007 с.) |