Заглавная страница Избранные статьи Случайная статья Познавательные статьи Новые добавления Обратная связь FAQ Написать работу КАТЕГОРИИ: ТОП 10 на сайте Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрацииТехника нижней прямой подачи мяча. Франко-прусская война (причины и последствия) Организация работы процедурного кабинета Смысловое и механическое запоминание, их место и роль в усвоении знаний Коммуникативные барьеры и пути их преодоления Обработка изделий медицинского назначения многократного применения Образцы текста публицистического стиля Четыре типа изменения баланса Задачи с ответами для Всероссийской олимпиады по праву
Мы поможем в написании ваших работ! ЗНАЕТЕ ЛИ ВЫ?
Влияние общества на человека
Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрации Практические работы по географии для 6 класса Организация работы процедурного кабинета Изменения в неживой природе осенью Уборка процедурного кабинета Сольфеджио. Все правила по сольфеджио Балочные системы. Определение реакций опор и моментов защемления |
Двойной микроскоп В. П. Линника мис-11Содержание книги
Похожие статьи вашей тематики
Поиск на нашем сайте Двойной микроскоп МИС-11 предназначен для измерения по параметру Rz и фотографирования шероховатости поверхности в пределах 3-9-го классов чистоты включительно. Прибор обеспечивает увеличение от 9 до 270 раз. Контроль шероховатости поверхности производится по методу светового сечения. Поле зрения от 0,3 до 1 мм. Пределы измерений прибора определяются выбором соответствующих объективов в зависимости от шероховатости контролируемой поверхности (таблица 6.2).
Таблица 6.2 Выбор объективов МИС - 11 в зависимости от шероховатости (класса чистоты) контролируемой поверхности
Подробное описание прибора МИС-11 и принципа его работы даны в литературных источниках [1], [2]. После ознакомления с микроскопом работа по измерению высоты микронеровностей Rz проводится в следующей последовательности. Ввернуть в тубусы микроскопа два одинаковых объектива, подобранных с учетом ожидаемого класса чистоты контролируемой поверхности. Положить контролируемую деталь на столик микроскопа и включить освещение. Круглой гайкой установить корпус на требуемую высоту (расстояние между контролируемой поверхностью и объективами должно быть в пределах 10 мм) и застопорить винтом. Винтами грубой и точной настройки добиться получения четкой фокусировки изображения световой щели. Поворотом микровинта окулярного микрометра подвести горизонтальную линию перекрестия к вершине, а затем к впадине изгиба щели. Высота неровностей в данном сечении определяется по формуле
где а - разность показаний окулярного микрометра, мкм; М - увеличение объективов, установленных на микроскопе. Величина Rz определяется как среднеарифметическое из пяти наибольших значений Dh на длине участка измерений.
Профилограф - профилометр АБРИС – ПМ 7,2 Профилограф - профилометр АБРИС–ПМ 7,2 состоит из следующих основных частей (рисунок 6.1): - первичного преобразователя (датчика) (поз. 1); - отсчетного устройства (поз. 2); - адаптера питания (поз. 3); - системного блока (поз. 4); - монитора (поз. 5); - клавиатуры (поз. 6); - печатающего устройства (поз. 7); - мыши (поз. 8).
Действие профилографа - профилометра основано на ощупывании неровностей измеряемой поверхности алмазной иглой и преобразовании колебаний щупа датчика в колебания электрического напряжения, пропорциональные этим колебаниям. Колебания напряжения обрабатываются в отсчетном устройстве или персональном компьютере по специальной программе, и результат обработки выводится в цифровом виде на индикатор отсчетного устройства или в цифровом и графическом виде на экран монитора персонального компьютера. При использовании прибора в качестве профилометра цифровое значение вычисленных параметров выдается в десятичном виде на устройство цифровой индикации отсчетного устройства. При использовании прибора в качестве профилографа подключается персональный компьютер и на мониторе демонстрируются результаты измерений параметров Ra, Rz, Rmax, Sm, профилограммы измеренной поверхности, гистограмма относительной опорной длины профиля. Работа на приборе. Предварительная подготовка прибора к работе и его настройка проводится в соответствии с «Руководством по эксплуатации ПМ-7,2». Настроенный первичный преобразователь (датчик) базируется на измеряемую поверхность либо непосредственно основанием, либо с помощью дополнительных приспособлений таким образом, чтобы рабочая поверхность щупа датчика, вершина алмазной иглы и рабочая плоскость преобразователя находились в одной плоскости. При этом индикатор датчика должен светится тем ярче, чем ближе к сбалансированному положению находится измерительный механизм датчика. Исходя из величины ожидаемой шероховатости, переключателями на корпусе отсчетного устройства устанавливается базовая длина и длина трассы ощупывания. Команда на начало измерения дается однократным нажатием кнопки либо на первичном преобразователе (датчике), либо на отсчетном устройстве, либо с клавиатуры персонального компьютера. Измерительный механизм перемещает алмазную иглу в направлениях рабочего и холостого ходов. Алмазная игла, копируя неровности поверхности, получает колебания, которые затем преобразуются колебания электрического напряжения. Счетно-решающее устройство обрабатывает полученные сигналы и выдает на экран вычисленные параметры шероховатости измеряемой поверхности.
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
Последнее изменение этой страницы: 2017-01-26; просмотров: 1175; Нарушение авторского права страницы; Мы поможем в написании вашей работы! infopedia.su Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Обратная связь - 216.73.216.236 (0.009 с.) |