Заглавная страница Избранные статьи Случайная статья Познавательные статьи Новые добавления Обратная связь FAQ Написать работу КАТЕГОРИИ: ТОП 10 на сайте Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрацииТехника нижней прямой подачи мяча. Франко-прусская война (причины и последствия) Организация работы процедурного кабинета Смысловое и механическое запоминание, их место и роль в усвоении знаний Коммуникативные барьеры и пути их преодоления Обработка изделий медицинского назначения многократного применения Образцы текста публицистического стиля Четыре типа изменения баланса Задачи с ответами для Всероссийской олимпиады по праву
Мы поможем в написании ваших работ! ЗНАЕТЕ ЛИ ВЫ?
Влияние общества на человека
Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрации Практические работы по географии для 6 класса Организация работы процедурного кабинета Изменения в неживой природе осенью Уборка процедурного кабинета Сольфеджио. Все правила по сольфеджио Балочные системы. Определение реакций опор и моментов защемления |
РПЗУ-ЭС на МНОП-транзисторахСодержание книги Поиск на нашем сайте Для построения памяти типа РПЗУ-ЭС широко используют транзисторы МНОП (от слов металл-нитрид-оксид-полупроводник) с двухслойным подзатворным диэлектриком. На поверхности кристалла находится тонкий слой диоксид кремния S/02, дальше — более толстый слой нитрида кремния S/3A/4, а затем уже металличе- Элемент памяти на МНОП-транзисторе работает в следующих режимах: программирования, хранения, считывания и стирания информации. Программированием называется процесс занесения заряда под затвор транзистора. При этом к затвору и-канального МНОП-транзистора, в котором создается заряд, прикладывают положительный импульс напряжения амплитудой около 20 В. Под действием сильного электрического поля электроны обретают достаточную энергию и туннелируют из подкладки через тонкий слой оксида толщиной около 5 нм в слой нитрида, где они захватываются "ловушками". В нитриде появляется неподвижный отрицательный заряд, выполняющий функцию носителя информации. Считают, что наличие заряда отображает лог. 0, а его отсутствие — лог. 1. Транзистор, в котором заряд отсутствует, открывается рабочим сигналом. В и-канальных МНОП- транзисторах заряд экранирует действие положительного напряжения на затворе и соответственно повышает пороговое напряжение настолько, что рабочий сигнал не может открыть транзистор
Итак, в зависимости от состояния транзистора при подаче на его затвор напряжения считывания UC4 (по координате Хх) в разрядной шине У, ток протекает или нет Усилитель считывания трансформирует состояние разрядной шины в выходное напряжение высокого (ток протекает) или низкого (ток отсутствует) уровней. Если транзистор имеет заряд в диэлектрике, то есть находится в состоянии лог. О, то для его перехода в состояние "1" накопленный заряд вытесняют из-под затвора отрицательным импульсом напряжения 30-40 В, который подается на затвор относительно подкладки. Такой процесс называют режимом стирания. РПЗУ на ЛИЗМОП-транзисторах
Запоминающий элемент типа ЛИЗМОП — это МОП-транзистор с индуцированным р- или /i-каналом. Металлический затвор этого транзистора размещен в толще диэлектрика (обычно диоксида кремния) и не имеет металлического вывода. Этот затвор называется плавающим (ПЗ). От кристалла ПЗ отделен диэлектриком толщиной 0,1 мкм При наличии заряда на ПЗ образуется проводящий канал и транзистор открыт— это соответствует записи лог. 1; при отсутствии заряда транзистор закрыт (записан лог. 0). В режиме программирования на исток и сток транзистора относительно подкладки подается положительный импульс напряжения амплитудой 25 В. На обратно смещенных n-р-переходах исток- подкладка и сток-подкладка возникает процесс лавинной инжекции заряда (отсюда происходит обозначение транзистора ЛИЗМОП). Часть электронов попадает на ПЗ; в результате наложения на ПЗ отрицательного заряда пороговое напряжение на передаточной характеристике смещается в область более высокого уровня (сдвиг вправо), что соответствует записи лог. 0. Отсутствие зарядов электронов на ПЗ соответствует записи лог. 1. Стирание записанной информации состоит в вытеснении заряда из ПЗ. Эту операцию в транзисторах ЛИЗМОП осуществляют двумя методами: в группе РПЗУ-ЭС — импульсом напряжения, который подается на затвор; в группе РПЗУ-УФ— с помощью ультрафиолетового (УФ) облучения сквозь прозрачное стекло в крышке корпуса. В первом случае накопленные на ПЗ электроны вытесняются в подкладку электрическим полем и восстанавливается состояние "1". Во втором случае электроны рассасываются с ПЗ в подложку в результате усиления теплового движения за счет полученной от источника УФ-излучения энергии. Режим считывания осуществляется так же, как и в микросхеме РПЗУ на МНОП- транзисторах. В режиме хранения обеспечивается отсутствие напряжения на электродах ЭП с тем, чтобы исключить рассасывание заряда на ПЗ в диэлектрической среде. В энергонезависимой постоянной памяти широко используют режим импульсного питания: напряжение подается только на ту микросхему памяти, к которой имеется обращение. Это во много раз уменьшает энергопотребление, улучшает тепло вой режим ИМС и повышает их надежность. Flash-память Флэш-память (Flash Memory) использует ЭП на транзисторах ЛИЗМОП с электрическим стиранием и записью информации. Она относится к постоянной памяти типа EEPROM, однако ряд архитектурных и функциональных особенностей позволили выделить флэш-память в отдельный класс. Флэш-память использует наряду с традиционными адресными и управляющими сигналами специальные команды. Информация в микросхемах флэш-памяти записывается и сохраняется в блоках определенного размера, иногда — назначения. При этом стирание информации осуществляется или для всей памяти сразу, или для больших блоков; это упрощает схемы ЭП. Флэш-память превосходит EEPROM в том, что не требует специальной аппаратуры для записи или стирания данных. Различают следующие виды флэш-памяти: • файловая флэш-память (Flash File) — массив ЭП разделен на блоки одинакового размера (симметричная архитектура); • флэш-память с несимметричной архитектурой (8oof Block) — массив ЭП разделен на блоки разного размера; один из блоков имеет аппаратные средства для защиты информации в нем; • флэш-память с возможностью стирания только всего массива ЭП (Bulk Erase)-, • флэш-память с возможностью записи информации при различных напряжениях программирования (Start Voltage); • память с использованием новых ЭП с четырьмя состояниями, которые хранят по два бита (Strata Flash).
• СЕ — выбор микросхемы; WE — разрешение записи, ОЕ — разрешение выдачи данных; • PWD — управление энергопотреблением: PWD = 1 — нормальная работа; PWD =0 — режим микропотребления (типовое значение тока / = 0,2 мкА, мощность потребления — 1 мВт) и блокировка операций записи и стирания; • URR — вход для подачи напряжения стирания блока или записи байта. Если Urr < UpR, то изменить данные невозможно; • UC(— напряжение питания плюс 5 В; • GND — корпус микросхемы. Выход RY / BY (Ready!Busy) показывает состояние автомата WSM. Если RY/BY = 1, то автомат занят, а если RY/BY = 0, то готов к приему новой команды. Операции в памяти выполняются после записи соответствующей команды: • "Чтение массива" (код FFH)\ • "Идентификатор" (код 90 Н). Вначале считывается код фирмы- производителя 89Я, затем код микросхемы А2Н. Эти коды позволяют автоматически определять алгоритм работы с памятью; • "Чтение регистра состояния" (код 70Н)\ • "Сброс регистра состояния "RGS' (код ЗОЯ); • "Установка стирания" (код 20//); "Подтверждение стирания" (код D0H). Команды следуют одна за одной; • "Приостановить стирание" (код ВОН); "Возобновить стирание" (код D0Я);
• "Установить запись байта" (код 40Я); "Запись".
|
|||||||
|
Последнее изменение этой страницы: 2016-08-06; просмотров: 729; Нарушение авторского права страницы; Мы поможем в написании вашей работы! infopedia.su Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Обратная связь - 216.73.216.196 (0.006 с.) |