Заглавная страница Избранные статьи Случайная статья Познавательные статьи Новые добавления Обратная связь FAQ Написать работу КАТЕГОРИИ: ТОП 10 на сайте Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрацииТехника нижней прямой подачи мяча. Франко-прусская война (причины и последствия) Организация работы процедурного кабинета Смысловое и механическое запоминание, их место и роль в усвоении знаний Коммуникативные барьеры и пути их преодоления Обработка изделий медицинского назначения многократного применения Образцы текста публицистического стиля Четыре типа изменения баланса Задачи с ответами для Всероссийской олимпиады по праву
Мы поможем в написании ваших работ! ЗНАЕТЕ ЛИ ВЫ?
Влияние общества на человека
Приготовление дезинфицирующих растворов различной концентрации Практические работы по географии для 6 класса Организация работы процедурного кабинета Изменения в неживой природе осенью Уборка процедурного кабинета Сольфеджио. Все правила по сольфеджио Балочные системы. Определение реакций опор и моментов защемления |
Электропроводность полупроводниковСодержание книги
Поиск на нашем сайте
Вещества с сопротивлением 10-6 – 10-4 Ом∙см причисляют к проводникам. Вещества с сопротивлением 1010 – 1018 Ом×см относят к диэлектрикам. К полупроводникам относят вещества с удельным сопротивлением от 10-3 –10-2 до 108 – 109 Ом∙см. Полупроводники занимают промежуточное место между проводниками и диэлектриками. Количество полупроводников значительно превышает количество диэлектриков и проводников. В электронике наиболее часто применяют кремний, германий, арсенид галлия, селен, теллур. Рассмотрим строение полупроводников с точки зрения зонной теории. При образовании кристалла энергетические уровни атомов расщепляются, что приводит к образованию зон, состоящих из близко расположенных друг к другу энергетических уровней. На энергетической диаграмме чистого полупроводника (рис. 2.2.1, а) показаны: В—валентная зона, все уровни которой при температуре абсолютного нуля заполнены электронами, С—зона свободных электронов (зона проводимости), на уровни которой могут переходить электроны при возбуждении атомов, и 3 — запрещенная зона, энергетические уровни в которой отсутствуют. Наличие запрещенной зоны означает, что для перехода в зону проводимости электрону необходимо сообщить энергию большую, чем DW. У металлов запрещенная зона отсутствует и валентная зона непосредственно соприкасается с зоной проводимости. Поэтому в металлах число свободных электронов велико, что и обеспечивает их высокую электро- и теплопроводность. У изоляторов ширина запрещенной зоны велика (DW>4 эВ) и при обычных условиях электроны проводимости практически отсутствуют. Ширина запрещенной зоны D W у наиболее распространенных полупроводников — германия (Ge) и кремния (Si) составляет соответственно 0,72 и 1,12 эВ. У кремния и германия запрещенная зона мала. Поэтому, при комнатной температуре Т=300K некоторые электроны могут преодолеть запретную зону. При уходе электрона из валентной зоны в ней остается незаполненный слой – дырка. Временно образуется разрыв одной связи (рис.2.2.1а).
Рисунок. 2.2.1. Зонная диаграмма и схема образования носителей зарядов в чистом полупроводнике (а) и полупроводниках n- типа (б) и р- типа (в).
Эти полупроводники принадлежат к IV группе элементов таблицы Менделеева и имеют по четыре валентных электрона. На рис. 2.2.1, а снизу показана также схема кристаллической решетки этих полупроводников, где связи, образованные валентными электронами, обозначены двойными линиями. Из-за относительно узкой запрещенной зоны у Ge и Si уже при температуре, близкой к комнатной (T=300 К), некоторые электроны получают энергию, достаточную, чтобы преодолеть запрещенную зону и перейти в зону проводимости. При уходе электрона в валентной зоне остается незаполненный энергетический уровень — дырка. В кристаллической решетке при этом происходит разрыв одной из валентных связей в кристалле полупроводника и появление свободного электрона, который может свободно перемещаться по кристаллу, и дырки — узла решетки, лишенного одного из электронов связи. Оборванная связь может быть восстановлена, если ее возобновит электрон из соседней связи. Процесс восстановления связей за счет перемещения электронов от одного атома решетки к другому удобно представить в виде противоположно направленного движения дырок, которым приписывается положительный заряд (т. е. заряд, противоположный заряду перемещающихся электронов). Таким образом, в кристалле возможно перемещение как свободных электронов (отрицательных зарядов), так и дырок (положительных зарядов). Процесс образования в чистом полупроводнике пары электрон – дырка называется генерацией собственных носителей зар ядов. Одновременно происходит процесс рекомбинации - возврат электронов из зоны проводимости в валентную зону. Время жизни между моментами генерации называется временем жизни носителя заряда. Чаще всего рекомбинация происходит на дефектах кристаллической решетки (нарушения кристаллической структуры, случайные примеси, трещины, дефекты в поверхностных слоях); эти дефекты служат центрами рекомбинации. Благодаря рекомбинации количество носителей заряда в полупроводнике не увеличивается и при постоянной температуре неизменно. Концентрации (количество носителей в единице объема, 1/см3) дырок pi и электронов ni в чистом полупроводнике равны:
pi=ni
В рабочем диапазоне температур концентрация электронов и дырок в чистом полупроводнике невелика, и по своим электрическим свойствам чистый полупроводник близок к диэлектрикам. Введение в чистый полупроводник небольших количеств примесей (например, в пропорции один атом примеси на миллион атомов полупроводника) приводит к резкому изменению характера электропроводности. Введем, например, в кремний атомы примесей V группы элементов таблицы Менделеева (мышьяк), имеющий на внешней оболочке пять валентных электронов. Такие примеси, обладающие дополнительным валентным электроном, называются донорными. Один из валентных электронов оказывается лишним, не образует связи с соседними атомами полупроводника. На энергетической диаграмме этому электрону соответствует локальный энергетический уровень, расположенный в верхней части запрещенной зоны (рис. 2.2.1 б) и заполненный при температуре абсолютного нуля. Близость локальных уровней к зоне проводимости приводит к тому, что уже при небольшом нагреве атомы примеси ионизируются, отдают дополнительный электрон, при этом число свободных электронов увеличивается. Образование свободных электронов при ионизации донорной примеси сопровождается появлением в узлах кристаллической решетки неподвижных положительных зарядов — ионов примеси. Обмен электронами между атомами примеси невозможен, так как атомы примеси удалены друг от друга и при комнатной температуре все ионизированы. Таким образом, ионизация атомов примеси не приводит к увеличению концентрации дырок, которые образуются только при разрыве связей между атомами полупроводника. Поэтому при введении донорной примеси концентрация свободных электронов оказывается значительно больше концентрации дырок и электропроводность определяется в основном электронами. В этом случае электроны называют основными носителями, дырки— неосновными, а такой полупроводник называется полупроводником п-типа. Несмотря на преобладание в примесном полупроводнике подвижных носителей одного знака, полупроводник в целом электрически нейтрален. Для полупроводника n -типа справедливо следующее равенство концентрации отрицательных и положительных зарядов:
nn= Рп+ Nд гдеNд — концентрация донорной примеси. Рп- концентрация дырок nn - концентрация электронов Поскольку рп мала, то nn ≈ Nд. При введении в кремний или германий примесей III группы (алюминия, бора или индия), называемых акцепторными, в кристаллической решетке в месте расположения атома примеси появляется дополнительный энергетический уровень, расположенный вблизи валентной зоны и незаполненный при температуре абсолютного нуля. За счет прихода электрона от соседнего атома основного вещества (например, при нагреве до комнатной температуры) образуется отрицательный ион примеси, а на месте оборванной связи положительный заряд — дырка. Локальные энергетические уровни примесей расположены теперь около валентной зоны и легко берут на себя электроны из этой зоны, приводя к образованию дырок. Основными носителями при этом становятся дырки, неосновными — электроны. Полупроводник с акцепторной примесью называется полупроводником р-типа. Для р-полупроводника справедливо выражение:
рр == np + Na ≈ Nа где Na — концентрация акцепторных примесей np - концентрация электронов рр - концентрация дырок.
Удельная электрическая проводимость полупроводников
s = qnmn +qpmp
где q — заряд электрона, n концентрация электронов, p - концентрация дырок, m n подвижность электронов, mp подвижность дырок. В электронном полупроводнике nn >>pn, поэтому sn = qnnmn дырочном полупроводнике рр>>nр, следовательно, sp = qppmp
|
||
|
Последнее изменение этой страницы: 2016-07-16; просмотров: 217; Нарушение авторского права страницы; Мы поможем в написании вашей работы! infopedia.su Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. Обратная связь - 216.73.217.128 (0.006 с.) |