Электронные омметры с конечными пределами измерения. Схемы, погрешности

↑

⇐ ПредыдущаяСтр 4 из 9Следующая ⇒

3. Электронные омметры с конечными пределами измерения. Схемы, погрешности

Отличие этих электронных омметров состоит в выборе источника питания делителя.

Схема электронных омметров с прямой шкалой и с конечными пределами измерения имеет вид:

Рисунок 2

В этой схеме образцовое сопротивление R выбирают в 100-1000 раз больше измеряемого R­_Х. Соответственно и напряжение источника питания U_ПИТ во много раз больше номинального напряжения ЭВ. Падение напряжения ЭВ: .

Из этого уравнения следует, что шкала будет равномерной и линейной.

Схема электронного омметра с конечным пределом измерения с обратной шкалой можно получить, если R­ и R­_Х в схеме поменять местами. В этой схеме измеряемое сопротивление в 100÷1000 раз больше образцового. Во столько же раз U₀ (питания) больше номинального напряжения ЭВ (U_ВХ). Для этой схемы напряжение

.

Шкала – обратная. При минимальном измеряемом сопротивлении (R­_Хmin) входное сопротивление достигает своего номинального значения :

.

Относительное показание ЭВ α с учетом того, что R­_Х>>R и R­_{Х min}>>R, α (относительное отклонение) будет равно:

.

4. Измерители сопротивлений с операционными усилителями

Такие электронные омметры могут быть построены с применением интегральных УПТ. При большой глубине ООС: , то есть U_вых линейно зависит от измеряемого сопротивления R_Х, поэтому шкала выходного прибора градуирована по сопротивлению и линейна.

Рисунок 3

Переключение пределов измерения осуществляется изменением сопротивления R_0i и Е. Для уменьшения дрейфа 0 УПТ изменяют сопротивления резисторов R1, R2, R3, подключенных к неинвертирующему входу УПТ (ОУ). Схему с обратной шкалой можно поменяв R_Х и R₀, тогда . Схема позволяет измерять R­_Х на несколько порядков больше R_0i , которое в свою очередь может быть очень большим (т.к. токи утечки здесь малы).

Познавательные статьи:



Техника прыжка в длину с разбега

Тактические действия в защите

История Олимпийских игр

История развития права интеллектуальной собственности